Kyllä, ympäristön lämpötila vaikuttaa todellakin a pyyhkäisytaajuusvasteanalyysitestauslaitteet, ensisijaisesti seuraavien mekanismien kautta:
1. Käämitysvastuksen vaihtaminen:
Johtimen vastus kasvaa nousevan lämpötilan kanssa (kaavan r 2= r1 [1+ (t2 - t1)] r2=r1 [1+ (T2 −T1)], missä on resistenssin lämpötilakerroin).
Lisääntynyt vastus johtaa kaavonnan suurempiin häviöihin.
Taajuusvasteanalyysissä (FRA) korkeammat häviöt (pääasiassa resistiiviset häviöt) aiheuttavat vastekäyrän amplitudin vähenemisen, etenkin - - keskialueella. Korkeat - taajuussignaalit ovat alttiimpia resistiivisille häviöille.
Vaikutus tuloksiin: Lämpötilan noustessa koko vastauskäyrä, erityisesti - - korkeataajuusosat, siirtyy alaspäin amplitudissa (muuttuu negatiivisemmaksi). Tämä voi peittää aitojen käämitysmuodostusominaisuuksien piirteet tai luoda esineitä, jotka muistuttavat pieniä muodonmuutoksia (esim. Amplitudin kokonaisvähennys).
2.Dielektriset vakio- ja kapasitiiviset vaikutukset:
Muuntajan käämitys käännösten, kerrosten, levyjen ja maadoitusten välillä on hajautettuja kapasitansseja. Nämä kapasitanssit muotoilevat kriittisesti taajuusvastekäyrän.
Eristysmateriaalien dielektrinen vakio (esim. Öljy, paperi) muuttuu lämpötilan myötä. Yleensä se kasvaa lämpötilan noustessa.
Lisääntynyt dielektrisyysvakio nostaa hieman hajautettujen kapasitanssien arvoja.
Vaikutus tuloksiin: Kapasitanssin muutokset muuttavat piirin resonanssitaajuuksia. Tämä voi aiheuttaa vähäisiä muutoksia resonanssipiikkien/laskun asentoissa (taajuuspisteissä) taajuusvastekäyrässä. Vaikka vastusmuutoksen aiheuttama amplitudin muutos on tyypillisesti vähemmän merkitsevää, tässä vaikutuksessa on harkittava korkeaa - tarkkuusvertailua tai diagnostiikkaa.
3.Mekaaninen stressi käämille (vähäinen ja epäsuora):
Äärimmäiset tai nopeat lämpötilan muutokset voivat aiheuttaa sisäisten materiaalien (johtimesta, eristys, tuet) eroavan lämpölaajennuksen/supistumisen, mikä tuottaa pieniä mekaanisia rasituksia.
Vaikutus tuloksiin: Teoreettisesti tämä voi aiheuttaa erittäin pieniä, mahdollisesti palautuvia muutoksia käämitysgeometriassa. Nämä muutokset ovat yleensä liian hienovaraisia luotettavan havaitsemiseksi käämityksen muodonmuutoksen testaajien avulla (jotka kohdistuvat merkittäviin mekaanisiin siirtymiin/muodonmuutoksiin), mutta kriittisissä tapauksissa voivat vaikuttaa erittäin heikosti testituloksen toistettavuuteen.
4.Tämäläisen testaajan ajotapa (vaatii huomiota):
Testerin elektronisten komponenttien suorituskykyparametrit (vahvistimet, suodattimet, ADC jne.) Voivat myös ajautua hieman ympäristön lämpötilan muutoksiin.
Vaikutus tuloksiin: Nykyaikainen korkea - laatuvälineiden on suunniteltu minimoimaan tämä ajautuminen ja lieventämään sen vaikutuksia kalibroinnin avulla. Äärimmäisissä lämpötiloissa tai alhaisemmilla - päätylaitteilla testaajan oma lämpötilan siirtyminen voisi kuitenkin tuoda lisämittausvirheitä.